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您现在的位置: 苏州量子仪器有限公司 > 供应信息> 薄膜测厚仪CH-1-S |
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发布时间: |
2012/11/10 14:50:00 |
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薄膜测厚仪CH-1-S 产品详细信息 薄膜测厚仪CH-1-S 产地:无锡 类型 薄膜测厚仪 品牌 型号 ch-1-s 测量范围 0-1(mm) 显示方式 显示 电源电压 0(V) 外形尺寸 150(mm)
一、产品简介 本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。 尤其适用于薄膜厚度薄对厚度要求严格的产品检测。是实验室常用的检测工具。 本薄膜测厚仪生产参照执行国家标准GB/T6672-2001。 二、主要技术指标:
1、本品测量范围:(0-1)mm,分辨率:0.001mm,
2、测厚仪工作温度: 0℃~+40℃, 储运温度:-20℃~+70℃。 环境相对湿度: ≤80% 本仪器数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等功能。 使用携带方便,操作简单。
本产品网址:http://www.vooec.com/sjshow_4674328/ 手机版网址:http://m.vooec.com/trade_4674328.html 产品名称:薄膜测厚仪CH-1-S |
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