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晶圆/芯片微弱电流测试VI源表
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| 发布时间：
2024/11/15 11:15:00 |
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电 话： |
86-027-87993690 |
| 传 真： |
86-- |
| 手 机： |
18140663476 |
| 邮 编： |
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| 地 址： |
东湖新技术开发区光谷大道308号光谷动力节能环保产业园8栋2楼 |
| 网 址： |
http://whpssins.cn.vooec.com |
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| 公司名称：武汉普赛斯仪表有限公司 |
| 联 系 人：陶女士 女士 市场专员 |
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在半导体和集成电路工艺中，材料、晶圆、芯片的测试是必不可少的环节。数字源表SMU具备源测功能，可以产生电流-电压(I-V)特性曲线，是半导体材料、器件电性能表征测量的核心。在测试时，通过数字源表提供激励并对测量信号进行采集，首先将电流或电压输入被测器件（DUT），测量该器件对此输入信号的响应；这些信号的路径为：源表的输出端接入电缆，电缆和探针连接，电流或电压信号通过探针至芯片。
普赛斯数字源表集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体，支持四象限工作、微弱电流10pA输出测量、3500V高压下nA级测量、1000A脉冲大电流输出，全系列产品丰富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，准确度提升至±0.03%，直流电流升级至3A，可为半导体行业提供更加精准、稳定的测试方案；晶圆/芯片微弱电流测试VI源表认准普赛斯仪表，详询18140663476
产品特点
5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作
内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV
源及测量的准确度为0.03%
四象限工作（源和阱），源及测量范围：高至300V，低至3pA
丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
支持USB存储，一键导出测试报告
支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网
本产品网址：http://www.vooec.com/cpshow_224483391/
手机版网址：http://m.vooec.com/product_224483391.html
产品名称：晶圆/芯片微弱电流测试VI源表 |
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