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四探针电阻率测试仪
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发布时间:
2023/2/21 9:32:00 |
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电 话: |
86-010-66024083 |
传 真: |
86-- |
手 机: |
18911397564 |
邮 编: |
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地 址: |
北京市海淀区上地十街1号院4号楼17层1707 |
网 址: |
http://bgjy.cn.vooec.com |
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公司名称:北京北广精仪仪器设备有限公司 |
联 系 人:吴 女士 |
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四探针电阻率测试仪BEST-300C 适用范围四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。 本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。 本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购. 提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求 电阻测量范围: 电阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、 电阻:1×10-5~2×105Ω 电导率:5×10-6~1×108ms/cm 分辨率: ~小1μΩ 测量误差±5% 测量电压量程:?2mV? 20mV? 200mV?2V? 测量精度±(0.1%读数) 分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV 电流输出:直流电流?0~1000mA?连续可调,由交流电源供电。 量程:1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,1000mA,? 误差:±0.2%读数±2字 主机外形尺寸:330mm*340mm*120mm 显示方式:液晶显示 电源:220±10% 50HZ/60HZ 标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。
GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定.直排四探针法 GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法 GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 国际标准分类中,四探针法涉及到半导体材料、金属材料试验、绝缘流体、兽医学、复合增强材料、电工器件、无损检测、集成电路、微电子学、土质、土壤学、水质、电子显示器件、有色金属。
在中国标准分类中,四探针法涉及到半金属与半导体材料综合、金属物理性能试验方法、、、电工合金零件、特种陶瓷、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、电阻器、半导体集成电路、工程地质、水文地质勘察与岩土工程、水环境有毒害物质分析方法、电工材料和通用零件综合、半金属、元素半导体材料、金属无损检验方法。 范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。 本产品网址:http://www.vooec.com/cpshow_224447873/ 手机版网址:http://m.vooec.com/product_224447873.html 产品名称:四探针电阻率测试仪 |
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