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测试治具
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| 发布时间：
2015/6/17 8:57:00 |
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电 话： |
86-010-57159993 |
| 传 真： |
86-010-51413673 |
| 手 机： |
13717605936 |
| 邮 编： |
100084 |
| 地 址： |
北京市海淀区中关村中发电子城B1209 |
| 网 址： |
http://bjcsj1.cn.vooec.com |
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| 公司名称：洪华科技北京有限公司 |
| 联 系 人：刘魏华 先生 市场部经理 |
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测试治具
北.京测试治具产品特点及性能参数:
产品通用程度高,只要换IC限位框,即可测试所有内存IC(宽度≤12MM);(I叁七I七六o五q三六)
有球无球均可测试(只需更换上盖的IC压板);
采用手动翻盖式结构,操作方便;
上盖的IC压板采用摆.动式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接.触可靠,而不会损坏锡球;
高精度的定位槽,保证IC定位精确,测试效率高;
测试准确性高,大大减少误判率;
采用进口双头针,探针可更换,维修方便,成本低;
绝缘材料:Torlon、PEI、PEEK、FR4等,限位框铝合金材料制.作;
测试频率可达1066M Hz;
测试寿命长,有效测试10万次以上;
内存条测试治具测试规格:DDR2X8 一次性可测试8颗内存颗粒;
可以定制单颗内存IC与服.务器主控IC的测试治具
可以免.费提供相关的技术支持。
本产品网址：http://www.vooec.com/cpshow_2224345/
手机版网址：http://m.vooec.com/product_2224345.html
产品名称：测试治具 |
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